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半导体衬底研磨用片状氧化铝

发布时间:2025-07-01 09:56:19来源: 人气:
在半导体衬底研磨工艺中,片状氧化铝(α-Al₂O₃)因其高硬度、化学稳定性和可控的粒径分布,常被用作研磨抛光材料的关键成分。

1. 片状氧化铝的特性

  • 高纯度(≥99.9%):避免金属杂质污染半导体表面(如硅、碳化硅或蓝宝石衬底)。

  • α相结构:高温稳定的晶相,硬度高(莫氏硬度9),适合精密研磨。

  • 片状形貌:扁平几何结构提供均匀切削力,减少表面划伤,优于不规则颗粒。

  • 粒径可控:通常为0.1-5 μm,粗研磨用较大颗粒,精抛改用亚微米级。
     

2. 在半导体研磨中的应用

  • 衬底类型:用于硅(Si)、碳化硅(SiC)、砷化镓(GaAs)、蓝宝石(Al₂O₃单晶)等。

  • 工艺阶段

    • 粗研磨:快速去除材料,使用1-5 μm颗粒。

    • 精抛光:配合胶体二氧化硅等实现纳米级表面粗糙度。

  • 形式:悬浮于水性或油性研磨液,或制成抛光垫固结磨料。
     

3. 优势与挑战

  • 优势

    • 化学惰性,不与衬底或研磨液反应。

    • 高硬度确保研磨效率,尤其对硬质材料(如SiC)。

    • 片状结构降低深层损伤风险。

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